品牌簡介
在過去的四十年中,PI(Physik Instrumente)已發(fā)展成為納米定位技術(shù)的領(lǐng)先制造商。創(chuàng)業(yè)行為的關(guān)鍵要素和動機(jī)始終保持不變:為客戶找到最佳解決方案。PI(Physik Instrumente)位移平臺以其產(chǎn)品質(zhì)量而聞名,多年來一直是全球精密定位技術(shù)市場的領(lǐng)導(dǎo)者之一。最重要的組成部分之一是國際PI家族內(nèi)部的團(tuán)隊(duì)精神,其基礎(chǔ)是超越國際邊界和功能限制的相互理解和支持。
PI是一家擁有健康增長的私營公司,在全球擁有1000多名員工,并且是一個靈活的垂直整合的組織,這使PI(Physik Instrumente)位移平臺能夠滿足創(chuàng)新型精密定位技術(shù)領(lǐng)域的幾乎所有要求。
PI的首要任務(wù)是成為客戶的可靠且高質(zhì)量的合作伙伴。PI是運(yùn)動和定位領(lǐng)域解決方案的全球領(lǐng)先供應(yīng)商。
應(yīng)用領(lǐng)域
六腳架支持工業(yè)機(jī)器人科學(xué)儀器
半導(dǎo)體技術(shù)
顯微鏡檢查
硅光子學(xué)
醫(yī)療技術(shù)
材料研究
機(jī)械工業(yè)
自動化
梁線儀器
添加劑制造
主動對準(zhǔn)
部分產(chǎn)品分類及介紹
納米定位壓電撓性位移臺
PI的壓電撓性位移臺將亞納米分辨率和導(dǎo)向精度與最小的串?dāng)_相結(jié)合。這使得它們特別適合于計量學(xué),超分辨率顯微鏡,干涉測量或半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)檢查系統(tǒng)中的應(yīng)用。壓電撓性位移臺可用于毫秒級的精確定位和動態(tài)掃描,在高達(dá)6的自由度下可達(dá)到幾百赫茲。
專有傳感器設(shè)計,無摩擦撓性導(dǎo)軌和長壽命PICMA®壓電執(zhí)行器的獨(dú)特結(jié)合,使機(jī)器具有出色且堅(jiān)固的機(jī)械性能。壓電運(yùn)動控制器支持定位和掃描性能優(yōu)化,并且可以輕松地通過數(shù)字或模擬接口進(jìn)行集成,并進(jìn)行舒適的編程。
1.多軸壓電撓性位移臺
PI的多軸壓電撓性位移臺可在多達(dá)6個軸上以亞納米級的精度進(jìn)行定位和掃描,包括尖端,傾斜和偏航運(yùn)動。版本范圍從最緊湊的立方體設(shè)計到大孔徑和薄型。
XYZ掃描儀是定位技術(shù)的全方位工具。應(yīng)用包括樣品調(diào)整,技術(shù),光學(xué)計量,光纖定位和光子學(xué)以及原子力顯微鏡。
所有壓電納米定位系統(tǒng)均已出廠校準(zhǔn),并隨測量記錄一起提供。
P-616NanoCube®納米定位器
緊湊的并聯(lián)運(yùn)動壓電系統(tǒng),用于納米定位和光纖對準(zhǔn)
應(yīng)用領(lǐng)域:
光纖定位和對準(zhǔn)
掃描顯微鏡
2-光子聚合
納米技術(shù)與納米制造
光子學(xué)/集成光學(xué)
顯微操作
樣品定位
電容式傳感器的亞納米分辨率
電容式傳感器可在不接觸的情況下以亞納米分辨率進(jìn)行測量。它們保證了出色的運(yùn)動線性,長期穩(wěn)定性以及kHz范圍內(nèi)的帶寬。
自動配置和快速的組件更換
機(jī)械和控制器可以根據(jù)需要進(jìn)行組合,并可以快速更換。所有伺服和線性化參數(shù)都存儲在機(jī)械師D-sub連接器的ID芯片中。每次打開控制器時,數(shù)字控制器的自動校準(zhǔn)功能都會使用此數(shù)據(jù)。
適用于復(fù)雜的真空應(yīng)用
壓電系統(tǒng)中使用的所有組件都非常適合在真空中使用。無需潤滑劑或油脂即可運(yùn)行。不含聚合物的壓電系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)極低的脫氣率。
PICMA®壓電執(zhí)行器,使用壽命長
專利的PICMA®壓電執(zhí)行器是全陶瓷絕緣的。這樣可以保護(hù)它們免受潮濕和由于泄漏電流增加而引起的故障的影響。PICMA®執(zhí)行器的使用壽命是傳統(tǒng)聚合物絕緣執(zhí)行器的十倍之多。已證明沒有任何故障的1000億次循環(huán)。
零游隙撓性導(dǎo)軌,導(dǎo)向精度高
撓性導(dǎo)板無維護(hù),無摩擦和無磨損,并且不需要潤滑。它們的剛度允許高負(fù)載能力,并且對沖擊和振動不敏感。它們是100%真空兼容的,并且可在較寬的溫度范圍內(nèi)工作。
通過并聯(lián)運(yùn)動學(xué)實(shí)現(xiàn)高動態(tài)多軸運(yùn)行
在并聯(lián)運(yùn)動多軸系統(tǒng)中,所有執(zhí)行器都作用在一個公共平臺上。最小的質(zhì)量慣性和所有軸的相同設(shè)計允許快速,動態(tài)且仍然精確的運(yùn)動。
P-363 PicoCube XY(Z)壓電掃描儀
用于掃描探針顯微鏡的動態(tài)納米定位儀
應(yīng)用領(lǐng)域:
掃描探針顯微鏡
原子力顯微鏡
掃描和篩選
零游隙撓性導(dǎo)軌,導(dǎo)向精度高
撓性導(dǎo)板無維護(hù),無摩擦和無磨損,并且不需要潤滑。它們的剛度允許高負(fù)載能力,并且對沖擊和振動不敏感。它們是100%真空兼容的,并且可在較寬的溫度范圍內(nèi)工作。
平行位置測量,在納米范圍內(nèi)具有很高的跟蹤精度
所有的自由度均以單個固定參考為基準(zhǔn)進(jìn)行測量。軸之間不需要的串?dāng)_可以實(shí)時(根據(jù)帶寬)得到主動補(bǔ)償(主動引導(dǎo))。即使在動態(tài)操作中,也可以在納米范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高跟蹤精度。
電容式傳感器的亞納米分辨率
電容式傳感器可在不接觸的情況下以亞納米分辨率進(jìn)行測量。它們保證了出色的運(yùn)動線性,長期穩(wěn)定性以及kHz范圍內(nèi)的帶寬。
自動配置和快速的組件更換
機(jī)械和控制器可以根據(jù)需要進(jìn)行組合,并可以快速更換。所有伺服和線性化參數(shù)都存儲在機(jī)械師D-sub連接器的ID芯片中。每次打開控制器時,數(shù)字控制器的自動校準(zhǔn)功能都會使用此數(shù)據(jù)。
2.用于顯微鏡的PIFOC®物鏡和PInano®樣品掃描儀
PIFOC®和PInano®系列的壓電撓性位移臺和物鏡掃描儀在定位和掃描任務(wù)方面具有很高的動態(tài)性。標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品提供了適用于XY樣品平行于和垂直于光軸定位以及物鏡Z聚焦的解決方案。
平臺也可以在系統(tǒng)中方便地與控制器,所有必需的連接電纜和軟件一起使用。像所有壓電系統(tǒng)一樣,顯微鏡載物臺和掃描儀也已通過測量記錄進(jìn)行了預(yù)校準(zhǔn)。
V-308物鏡音圈PIFOC聚焦驅(qū)動器
用于顯微鏡物鏡的高動態(tài)定位器
使用PIFOC對目標(biāo)進(jìn)行Z定位
在許多檢查或顯微鏡技術(shù)中,都需要將樣品沿Z方向(即沿物鏡的光軸)定位??商娲?,可以在Z方向上移動物鏡本身。為此,PI提供了名為PIFOC的解決方案。
PIMag®音圈電機(jī)
音圈馬達(dá)是直接驅(qū)動器。在直接驅(qū)動中,驅(qū)動元件的力直接傳遞到要移動的負(fù)載上,而無需使用機(jī)械傳??遞元件,例如聯(lián)軸器,驅(qū)動螺桿或齒輪箱。音圈驅(qū)動器由位于磁場氣隙中的永磁體和繞組體組成。當(dāng)電流流經(jīng)繞組時,它會在永磁體的磁場中移動。音圈驅(qū)動器由于其重量輕且無摩擦的驅(qū)動原理,特別適合要求在有限行程范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高動力和高速度的應(yīng)用。這些驅(qū)動器還可以實(shí)現(xiàn)高掃描頻率和精確定位,因?yàn)樗鼈儾皇艽艤挠绊憽?/div>
直接位置測量
直接在運(yùn)動平臺上以最高的精度執(zhí)行位置測量,因此非線性,機(jī)械游隙或彈性變形對位置測量沒有影響。
集成重力補(bǔ)償
該產(chǎn)品配備了磁力稱重補(bǔ)償。即使沒有通電,也可以保持垂直于運(yùn)動軸的最大1 kg負(fù)載的位置。重力補(bǔ)償可由用戶調(diào)整。
交叉滾子導(dǎo)軌
對于交叉的滾柱導(dǎo)軌,滾珠導(dǎo)軌中滾珠的點(diǎn)接觸被硬化滾柱的線接觸所代替。因此,它們更堅(jiān)固,需要的預(yù)緊力更小,從而減少了摩擦并實(shí)現(xiàn)了順暢的運(yùn)行。交叉滾子導(dǎo)向裝置還具有較高的導(dǎo)向精度和承載能力。力引導(dǎo)的滾動體保持架可防止保持架蠕變。
應(yīng)用領(lǐng)域
顯微鏡:多光子熒光顯微鏡,深層組織檢查,數(shù)字玻片掃描顯微鏡。生物技術(shù):采用Solexa-Illumina方法進(jìn)行基因組測序,免疫分析熒光。
醫(yī)療設(shè)備:掃描激光眼科,自動細(xì)胞計數(shù)器/流式細(xì)胞儀。生物醫(yī)學(xué)研究:光學(xué)和磁性鑷子。激光材料加工:激光微加工,激光燒蝕。半導(dǎo)體行業(yè):半導(dǎo)體/晶圓檢查。
PD72Z2x•PD72Z4x PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)400 µm
高動態(tài)壓電驅(qū)動器,可實(shí)現(xiàn)亞納米分辨率
應(yīng)用領(lǐng)域
顯微鏡檢查
共聚焦顯微鏡
3D成像
篩選
自動對焦系統(tǒng)
表面分析
晶圓檢查
多光子顯微鏡
直接位置測量帶來最高的精度
直接在運(yùn)動平臺上測量運(yùn)動,而不受驅(qū)動或?qū)蛟娜魏斡绊?。這樣可以實(shí)現(xiàn)最佳的可重復(fù)性,出色的穩(wěn)定性以及快速響應(yīng)的剛性控制。
電容式傳感器的亞納米分辨率
電容式傳感器可在不接觸的情況下以亞納米分辨率進(jìn)行測量。它們保證了出色的運(yùn)動線性,長期穩(wěn)定性以及kHz范圍內(nèi)的帶寬。
豐富的軟件可快速啟動生產(chǎn)運(yùn)營
得益于對MATLAB和NI LabVIEW以及所有常見操作系統(tǒng)(Windows,Linux和macOS)的支持,集成幾乎可以在每個環(huán)境中快速有效地實(shí)現(xiàn)。復(fù)雜的編程示例和軟件工具(例如PIMikroMove)大大縮短了生產(chǎn)運(yùn)營的時間。
ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000 µm
納米分辨率和快速步進(jìn)和穩(wěn)定
應(yīng)用領(lǐng)域
雙光子顯微鏡
共聚焦顯微鏡
3D成像
激光技術(shù)
干涉儀
生物技術(shù)
顯微操作
自動對焦,適合長途旅行
使用增量線性編碼器進(jìn)行高精度位置測量
非接觸式光學(xué)編碼器可以最高精度直接在平臺上測量位置。非線性,機(jī)械間隙或彈性變形對測量沒有影響。
PiezoWalk®行走驅(qū)動器可實(shí)現(xiàn)納米級精度和高進(jìn)給力
多個壓電執(zhí)行器在PiezoWalk®行走驅(qū)動器中執(zhí)行行走運(yùn)動,從而導(dǎo)致跑步者向前進(jìn)給。致動器的控制允許最小的步進(jìn)和正向進(jìn)給運(yùn)動,其分辨率遠(yuǎn)低于1納米。
豐富的軟件可快速啟動生產(chǎn)運(yùn)營
得益于對MATLAB和NI LabVIEW以及所有常見操作系統(tǒng)(Windows,Linux和macOS)的支持,集成幾乎可以在每個環(huán)境中快速有效地實(shí)現(xiàn)。復(fù)雜的編程示例和軟件工具(例如PIMikroMove)大大縮短了生產(chǎn)運(yùn)營的時間。