法國Phasics SID4-UV-HR技術(shù)指導(dǎo)
法國Phasics SID4-UV-HR
產(chǎn)品介紹:
基于Phasics的專利技術(shù),SID4UV-HR波前傳感器在190nm至400nm的紫外光譜中提供無與倫比的高分辨率(355x280個測量點)和非常高的靈敏度(1nmRMS)。因此,SID4UV-HR完美適用于光學元件表征(用于光刻、半導(dǎo)體……)和表面檢測(透鏡和晶圓……)。
產(chǎn)品特點:
靈敏度低至190nm
高靈敏度–1nmRMS
超高分辨率(355x280采樣)
產(chǎn)品參數(shù):
波長范圍:190-400納米
孔徑尺寸:13.8x10.88平方毫米
空間分辨率:38.88微米
相位和強度采樣:355×280
分辨率(相位):1納米有效值
準確度(絕對):10納米有效值
獲取率:30幀/秒
實時處理頻率*:>3fps(全分辨率)*
界面:相機鏈接
尺寸(WxHxL):51x51.1x76毫米³
重量:~300克
法國Phasics SID4-HR
產(chǎn)品介紹:
SID4-HR為最苛刻的波前測量應(yīng)用帶來了超高相位采樣(400x300)和高動態(tài)范圍(500µmPV)。其大孔徑和極高的波前靈敏度使其非常適合直接測量大發(fā)散光束而無需中繼光學器件。
產(chǎn)品特點:
超高分辨率(400x300相位像素)
大分析瞳孔:11.8x8.9mm²
直接測量高達0.8的高NA光束
產(chǎn)品參數(shù):
波長范圍:400-1100 納米
孔徑尺寸:11.84 x 8.88 平方毫米
空間分辨率:29.6 微米
相位和強度采樣:400×300
分辨率(相位):2 納米有效值
準確性:15 納米有效值
獲取率:10 幀/秒
實時處理頻率*:3 fps(全分辨率)
界面:千兆以太網(wǎng)
尺寸 (WxHxL):54 x 46 x 79 毫米³
重量:~250 克
法國Phasics Kaleo 套件
產(chǎn)品介紹:
KaleoKit是用于光學鑒定的模塊化系統(tǒng)。它結(jié)合了廣泛的兼容模塊,讓您可以創(chuàng)建一個經(jīng)濟高效、緊湊且易于使用的系統(tǒng),該系統(tǒng)可以適應(yīng)各種測量配置,并在所有開發(fā)階段確保您的樣品質(zhì)量。一次采集即可訪問樣品的所有特征:TWE、RWE、波前像差、MTF、PSF等等!
產(chǎn)品特點:
通用性:從紫外到紅外,模塊兼容獨立使用
強大的獨特技術(shù):高分辨率、大動態(tài)范圍、納米級靈敏度
易于使用:緊湊且易于對齊
產(chǎn)品參數(shù):
1-選擇您的波前傳感器:SID4UV/SID4/SID4-HR/SID4-SWIR/SID4SWIR-HR/SID4DWIR
2-選擇您的R-Cube波長(nm)*:365/405/530/625/740/780/810/850/940/1050/1550/3900
3.1-使用聚焦系統(tǒng)(F#)塑造光束*:0.6/1/1.6/2.5/5/10
3.2-使用擴束器塑造光束–出瞳直徑(mm)*:8/15/30/60/130
+參考鏡:平面或球體
法國Phasics SID4-UHR
產(chǎn)品介紹:
SID4-UHR超高分辨率波前傳感器適用于光學計量需求。它結(jié)合了SID4的易于實施與高采樣和分辨率。它的大孔徑允許對整個被測樣品進行實時波前測量。SID4-UHR針對表面檢測(粗糙度、高頻缺陷檢測...)和光學元件表征(透鏡、物鏡、非球面和自由曲面光學...)進行了優(yōu)化。它采用高性能相機構(gòu)建,為激光表征提供了令人難以置信的精度。具有如此緊湊性的512x512(選件666x666)相位圖采樣使SID4-UHR成為研究和工業(yè)領(lǐng)域的光學和激光計量的獨特工具。
產(chǎn)品特點:
非常高分辨率
大分析瞳孔:15.16x15.16mm²
消色差
產(chǎn)品參數(shù):
波長范圍:400-1100 納米
孔徑尺寸:15.16 x 15.16 平方毫米
空間分辨率:29.6 µm(選項 22.2 µm)
相位和強度采樣:512 x 512(選項 666 x 666)
分辨率(相位):2 納米有效值
準確性:15 納米有效值
獲取率:8 幀/秒
實時處理頻率*:1 fps(全分辨率)
界面:千兆以太網(wǎng)
尺寸 (WxHxL):60 x 60 x 70 毫米³
重量:~450 克
法國Phasics SID4-UV-HR技術(shù)指導(dǎo)