朗格langer MV-Technik工具簡(jiǎn)介

　　朗格langer MV-Technik工具E1

　　Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究，開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)的最前沿。通過(guò)EMC實(shí)驗(yàn)研討會(huì)和EMC研討會(huì)，我們?yōu)榭蛻?hù)提供了全面的知識(shí)。

　　我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測(cè)量技術(shù)以及IC測(cè)試系統(tǒng)主要用于開(kāi)發(fā)階段，并且在全球范圍內(nèi)都有需求。

　　產(chǎn)品展示

　　PCB抗擾度

　　測(cè)量系統(tǒng)和EMC工具，用于進(jìn)行組件和設(shè)備的抗擾性測(cè)試和分析

　　PCB發(fā)射

　　在開(kāi)發(fā)階段用于組件和設(shè)備排放分析的測(cè)量系統(tǒng)和EMC工具

　　測(cè)量和校準(zhǔn)站

　　測(cè)量和校準(zhǔn)站用于校準(zhǔn)EMC測(cè)量?jī)x器并確定連接器的EMC參數(shù)。

　　教學(xué)與培訓(xùn)測(cè)量技術(shù)

　　EMC實(shí)驗(yàn)的模型裝配

　　IC測(cè)量技術(shù)

　　借助IC(集成電路)測(cè)試系統(tǒng)，開(kāi)發(fā)人員可以在特定干擾(傳導(dǎo)和輻射)或其輻射期間測(cè)試電路的行為。該IC在運(yùn)行中經(jīng)過(guò)了測(cè)試。

　　E1是一組EMC工具，用于在開(kāi)發(fā)階段抑制印刷電路板中的EMI。開(kāi)發(fā)人員可以使用E1集快速識(shí)別突發(fā)和ESD干擾的原因。這使開(kāi)發(fā)人員可以設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)拇胧﹣?lái)解決干擾的原因。它也可以用來(lái)測(cè)試所采取措施的有效性。E1測(cè)試裝置很小，可輕松安裝在開(kāi)發(fā)人員的桌子上。E1集用戶(hù)手冊(cè)介紹了EMC機(jī)制，并詳細(xì)描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測(cè)量策略。E1集包括一個(gè)發(fā)生器，用于產(chǎn)生突發(fā)和ESD干擾。

　　供貨范圍

　　· 1倍SGZ 21，脈沖發(fā)生器

　　· 1倍S21，光學(xué)傳感器(10 Mbps)

　　· 1倍BS 02，磁場(chǎng)源

　　· 1倍BS 04DB，磁場(chǎng)源

　　· 1倍BS 05D，磁場(chǎng)源

　　· 1倍BS 05DU，磁場(chǎng)源

　　· 1倍ES 00，電場(chǎng)源

　　· 1倍ES 01，電場(chǎng)源

　　· 1倍ES 02，電場(chǎng)源

　　· 1倍ES 05D，電場(chǎng)源

　　· 1倍ES 08D，電場(chǎng)源

　　· 1倍MS 02，磁場(chǎng)探頭

　　· 1倍E1 acc，配件

　　· 1倍NT FRI EU，電源裝置

　　· 1倍E1案例，系統(tǒng)案例

　　· 1倍E1 m，E1設(shè)置用戶(hù)手冊(cè)

　　P1 set

　　P23 set

　　P11t set

　　P12t set

　　CAN 100 set

　　CAN 100 A01 set

　　LIN 100 set

　　BD 11

　　BD 06B

　　BD 01B

　　BD 01E

　　ESA1 set

　　HFW 21 set

　　Z23-1 set

　　Z23-2 set

　　NNB 21 set

　　PA 203 SMA套件

　　PA 303 BNC套件

　　PA 303 SMA套件

　　PA 303 N套

　　PA 306 SMA套

　　ICS 105

　　FLS 106 IC

　　FLS 106 PCB

　　SUH 106

　　LF1

　　MFA-K 0.1-12 set

　　A100-1 set

　　XF-R 100-1

　　迷你突發(fā)場(chǎng)發(fā)生器特別小。它們用于在開(kāi)發(fā)階段識(shí)別和消除電子裝配中的薄弱環(huán)節(jié)。它們會(huì)在其尖端產(chǎn)生脈沖串或ESD場(chǎng)。微型脈沖發(fā)生器用手在其被測(cè)設(shè)備(例如印刷電路板)上靠近其表面的方向上引導(dǎo)。弱點(diǎn)會(huì)響應(yīng)脈沖場(chǎng)，并且會(huì)發(fā)生故障。突發(fā)場(chǎng)發(fā)生器可以應(yīng)用于電路板設(shè)計(jì)的選定單個(gè)部分，以識(shí)別潛在的弱點(diǎn)(接地系統(tǒng)中的故障，單個(gè)走線(xiàn)或IC引腳)。分開(kāi)的磁耦合(P11和P12)和電耦合(P21)允許針對(duì)相應(yīng)的弱點(diǎn)最佳地調(diào)整EMC對(duì)策。

　　供貨范圍

　　· 1倍P11，迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器(B)

　　· 1倍P12，迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器(B)

　　· 1倍P21，迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器(E)

　　· 1倍P1機(jī)殼，Mini Burst Field Generators機(jī)殼

　　· 1倍P1 m，P1設(shè)置用戶(hù)手冊(cè)

　　· 朗格langer MV-Technik工具E1